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各種顯微鏡簡介

日期:2024-11-22 05:49
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摘要:
 

各種顯微鏡簡介
相位差
顯微鏡

  相位差顯微鏡的結(jié)構(gòu):
 
  相位差顯微鏡,是應(yīng)用相位差法的顯微鏡。因此,比通常的顯微鏡要增加下列附件:
 
  (1) 裝有相位板(相位環(huán)形板)的物鏡,相位差物鏡。
 
  (2) 附有相位環(huán)(環(huán)形縫板)的聚光鏡,相位差聚光鏡。
 
  (3) 單色濾光鏡-(綠)。
 
  各種元件的性能說明
 
  (1) 相位板使直接光的相位移動 90°,并且吸收減弱光的強(qiáng)度,在物鏡后焦平面的適當(dāng)位置裝置相位板,相位板必須確保亮度,為使衍射光的影響少一些,相位板做成環(huán)形狀。
 
  (2) 相位環(huán)(環(huán)狀光圈)是根據(jù)每種物鏡的倍率,而有大小不同,可用轉(zhuǎn)盤器更換。
 
  (3) 單色濾光鏡系用中心波長546nm(毫微米)的綠色濾光鏡。通常是用單色濾光鏡入觀察。相位板用特定的波長,移動90°看直接光的相位。當(dāng)需要特定波長時,必須選擇適當(dāng)?shù)臑V光鏡,濾光鏡插入后對比度就提高。此外,相位環(huán)形縫的中心,必須調(diào)整到正確方位后方能操作,對中望遠(yuǎn)鏡就是起這個作用部件。

視頻顯微鏡

  將傳統(tǒng)的顯微鏡與攝象系統(tǒng),顯示器或者電腦相結(jié)合,達(dá)到對被測物體的放大觀察的目的。
 
  *早的雛形應(yīng)該是相機(jī)型顯微鏡,將顯微鏡下得到的圖像通過小孔成象的原理,投影到感光照片上,從而得到圖片?;蛘咧苯訉⒄障鄼C(jī)與顯微鏡對接,拍攝圖片。隨著CCD攝像機(jī)的興起,顯微鏡可以通過其將實(shí)時圖像轉(zhuǎn)移到電視機(jī)或者監(jiān)視器上,直接觀察,同時也可以通過相機(jī)拍攝。80年代中期,隨著數(shù)碼產(chǎn)業(yè)以及電腦業(yè)的發(fā)展,顯微鏡的功能也通過它們得到提升,使其向著更簡便更容易操作的方面發(fā)展。到了90年代末,半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展,晶圓要求顯微鏡可以帶來更加配合的功能,硬件與軟件的結(jié)合,智能化,人性化,使顯微鏡在工業(yè)上有了更大的發(fā)展。

熒光顯微鏡

  在螢光顯微鏡上,必須在標(biāo)本的照明光中,選擇出特定波長的激發(fā)光,以產(chǎn)生螢光,然后必須在激發(fā)光和螢光混合的光線中,單把螢光分離出來以供觀察。因此,在選擇特定波長中,濾光鏡系統(tǒng),成為極其重要的角色。
 
  螢光顯微鏡原理:
 
  (A) 光源:光源幅射出各種波長的光(以紫外至紅外)。
 
  (B) 激勵濾光源:透過能使標(biāo)本產(chǎn)生螢光的特定波長的光,同時阻擋對激發(fā)螢光無用的光。
 
  (C) 螢光標(biāo)本:一般用螢光色素染色。
 
  (D) 阻擋濾光鏡:阻擋掉沒有被標(biāo)本吸收的激發(fā)光有選擇地透射螢光,在螢光中也有部分波長被選擇透過。 以紫外線為光源,使被照射的物體發(fā)出熒光的顯微鏡。電子顯微鏡是在1931年在德國柏林由克諾爾和哈羅斯卡首先裝配完成的。這種顯微鏡用高速電子束代替光束。由于電子流的波長比光波短得多,所以電子顯微鏡的放大倍數(shù)可達(dá)80萬倍,分辨的*小極限達(dá)0.2納米。1963年開始使用的掃描電子顯微鏡更可使人看到物體表面的微小結(jié)構(gòu)。
 
  顯微鏡被用來放大微小物體的圖像。一般應(yīng)用于對生物、醫(yī)藥、微觀粒子等觀測。
 
  (1)利用微微動載物臺之移動,配全目鏡之十字座標(biāo)線,作長度量測。
 
  (2)利用旋轉(zhuǎn)載物臺與目鏡下端之游標(biāo)微分角度盤,配全合目鏡之址字座標(biāo)線,作角度量測,令待測角一端對準(zhǔn)十字線與之重合,然后再讓另一端也重合。
 
  (3)利用標(biāo)準(zhǔn)檢測螺紋的節(jié)距、節(jié)徑、外徑、牙角及牙形等尺寸或外形。
 
  (4)檢驗(yàn)金相表面的晶粒狀況。
 
  (5)檢驗(yàn)工件加工表面的情況。
 
  (6)檢測微小工件的尺寸或輪廓是否與標(biāo)準(zhǔn)片相符。

偏光顯微鏡

  偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質(zhì),在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來進(jìn)行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。
 
  (1)偏光顯微鏡的特點(diǎn)
 
  將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,以鑒別某一物質(zhì)是單折射(各向同行)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域,在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。
 
  (2)偏光顯微鏡的基本原理
 
  偏光顯微鏡的原理比較復(fù)雜,在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必須具備以下附件:起偏鏡,檢偏鏡,補(bǔ)償器或相位片,專用無應(yīng)力物鏡,旋轉(zhuǎn)載物臺。

超聲波顯微鏡

  超聲波掃描顯微鏡的特點(diǎn)在于能夠**的反映出聲波和微小樣品的彈性介質(zhì)之間的相互作用,并對從樣品內(nèi)部反饋回來的信號進(jìn)行分析!圖像上(C-Scan)的每一個象素對應(yīng)著從樣品內(nèi)某一特定深度的一個二維空間坐標(biāo)點(diǎn)上的信號反饋,具有良好聚焦功能的Z.A傳感器同時能夠發(fā)射和接收聲波信號。一副完整的圖像就是這樣逐點(diǎn)逐行對樣品掃描而成的。反射回來的超聲波被附加了一個正的或負(fù)的振幅,這樣就可以用信號傳輸?shù)臅r間反映樣品的深度。用戶屏幕上的數(shù)字波形展示出接收到的反饋信息(A-Scan)。設(shè)置相應(yīng)的門電路,用這種定量的時間差測量(反饋時間顯示),就可以選擇您所要觀察的樣品深度。各種顯微鏡簡介,各種顯微鏡簡介